如何采用超聲波探傷儀對焊縫進(jìn)行探傷工作呢,超聲波探傷是無(wú)損探傷中較為常見(jiàn)的一種,超聲波探傷儀操作可以分為定性操作和定量操作,要操作好超聲波探傷儀需要經(jīng)驗的積累。下面我們介紹如何用超聲波探傷儀對焊縫探傷,作簡(jiǎn)要的描述。
一、 探頭前沿長(cháng)度的測量。
將探頭放置在CSK-IA試塊上,將入射點(diǎn)對準R100處,找出反射波達到*高時(shí)探頭到R100端部的距離。
然后用其所長(cháng)100減去此段距離。此時(shí)所得的數據就是探頭的前沿距離。按此方法連測三次,求出平均值。
二、測量探頭的K值
利用 CSK-IA試塊上的φ50孔的反射角測出并用反三角函數計算出K值。
將探頭對準試塊上φ50橫孔,找到*高回波:則有K=tg,β=(L+l-35)/30。
三、掃描速度的調節
1、水平調節法
將探頭對準 R50、R100,調節儀器使 B1、B2分別對準不平刻度,此時(shí)計算出l1 、l2。
將計算出的數據在示波屏上將B1和B2調相對應的位置,此時(shí)水平距離掃描速度為1:1。
2、深度調節法
利用 CSK-ⅠA 試塊調節,先計算 R50、R100 圓弧反射波 B1、B2 對 應的縱深 d1、d2:
然后調節儀器使 B1、B2 分別對準水平刻度值 d1、d2。如K=2時(shí),經(jīng)計算d1=22.4mm、d2=44.8mm。
調節儀器使B1、B2分別對準22.4和平共處 44.8,這時(shí)深度1:1就調節好了。
四、距離--波幅曲線(xiàn)的繪制
1、將探頭置于CSK-ⅢA試塊上,衰減48dB,調增益使深度為10mm的φ1×6孔的*高回波達基準60%,記錄此時(shí)的衰減器讀數和孔深,然后分別探測其它不同深度的φ1×6孔,增益不 動(dòng),調節衰減器將各孔的*高回波調60%高,記下相應的dB值和孔深填入表中。
2、以孔深為橫坐標,以分貝值為縱坐標,在坐標紙上描點(diǎn)繪出定 量線(xiàn)、判廢線(xiàn)和評定線(xiàn),標出Ⅰ區、Ⅱ區、Ⅲ區,并注明所用探頭的頻率、晶片尺寸和K值。
五、 調節探傷靈敏度
調節探傷靈敏度時(shí),探傷靈敏度不得低于評定線(xiàn),一般以2倍的壁厚處所對應的評定線(xiàn)dB 值,也就是說(shuō)在工件60mm處評定線(xiàn)所對應的分貝值。如若還要考慮耦合補償,補償根據實(shí)際 情況而定。
六、探測鋼板
1、初掃,找缺陷,懷疑處作好標記。
2、細探,對可疑處進(jìn)行仔細掃查。
去偽存真,對真缺陷測*大值,一、二次波都要測一下,另一側也要測一下,然后作比較,取當量*大者。
3、缺陷的定位
(1)按水平調節掃描速度時(shí)一次波探傷時(shí),缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為: lf=nτf df= nτf/K
n-掃描比例 τf-實(shí)際探傷水平刻度值 K=探頭的 K值二次波探傷時(shí),缺陷在工件中的水平距離lf 和深度df 為:lf=n τf df=2T- nτf/K
(2)按深度調節掃描速度時(shí)
一次波探傷時(shí),缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為:lf=Kn τf df= nτf
二次波探傷時(shí),缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為:lf=Kn τf df= 2T-nτf
4、根據*大值,結合dB--距離曲線(xiàn)判定缺陷所處的區域,記錄成φ1×6±X型式。
5、根據6dB法測出缺陷的長(cháng)度。
6、對Ⅱ區和Ⅲ區的缺陷測定其長(cháng)度和大小,并對照JB/T4730-2005評定。
其他無(wú)損檢測儀器:鐵素體含量檢測儀。